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Modeling nucleation and insulating properties of oxide surfaces and ultrathin films
2004-01-01 S., Schintke; M., Stengel; L., COLOMBI CIACCHI; SCHNEIDER W., D; M., Svetina; J. V., Barth; Sbaizero, Orfeo; S., Roitti; MERIANI MERLO, Sergio; DE VITA, Alessandro
Piezo-spectroscopic determination of residual stresses in an Al2O3/NiAl FGM
2000-01-01 Lughi, Vanni; Colombi Ciacchi, L.; Kong, C. M.; Lannutti, J. J.; Sergo, Valter
Titolo | Data di pubblicazione | Autori | File |
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Modeling nucleation and insulating properties of oxide surfaces and ultrathin films | 1-gen-2004 | SBAIZERO, ORFEOMERIANI MERLO, SERGIODE VITA, ALESSANDRO + | |
Piezo-spectroscopic determination of residual stresses in an Al2O3/NiAl FGM | 1-gen-2000 | LUGHI, VANNISERGO, VALTER + |
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