MEMS Metrology: “Dynamic Characterisation of the Mechanical Behavior” / Scuor, Nicola; Gallina, Paolo; Nicolich, Marino; Sbaizero, Orfeo; Sergo, Valter. - ELETTRONICO. - (2005), pp. ---. ( AITEM 2007 Lecce settembre).
MEMS Metrology: “Dynamic Characterisation of the Mechanical Behavior”
SCUOR, NICOLA;GALLINA, PAOLO;NICOLICH, MARINO;SBAIZERO, ORFEO;SERGO, VALTER
2005-01-01
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.


