Monolithic integration of Si-PIN diodes and n-channel double-gate JFETS for room temperature X-ray spectroscopy / DALLA BETTA, G. F.; Pignatel, G. U.; Verzellesi, G.; Boscardin, M.; Fazzi, A.; Bosisio, Luciano. - In: NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH. SECTION A, ACCELERATORS, SPECTROMETERS, DETECTORS AND ASSOCIATED EQUIPMENT. - ISSN 0168-9002. - 458:(2001), pp. 275-280.

Monolithic integration of Si-PIN diodes and n-channel double-gate JFETS for room temperature X-ray spectroscopy

BOSISIO, LUCIANO
2001-01-01

File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11368/1690997
 Avviso

Registrazione in corso di verifica.
La registrazione di questo prodotto non è ancora stata validata in ArTS.

Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact