Monolithic integration of Si-PIN diodes and n-channel double-gate JFETS for room temperature X-ray spectroscopy

Monolithic integration of Si-PIN diodes and n-channel double-gate JFETS for room temperature X-ray spectroscopy / DALLA BETTA G.-F.; PIGNATEL G.U.; VERZELLESI G.; BOSCARDIN M.; FAZZI A.; BOSISIO L.. - In: NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH. SECTION A, ACCELERATORS, SPECTROMETERS, DETECTORS AND ASSOCIATED EQUIPMENT. - ISSN 0168-9002. - 458(2001), pp. 275-280.



Titolo: Monolithic integration of Si-PIN diodes and n-channel double-gate JFETS for room temperature X-ray spectroscopy
Autori: 
BOSISIO, LUCIANO
mostra contributor esterni 
Data di pubblicazione: 2001
Rivista: 
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH. SECTION A, ACCELERATORS, SPECTROMETERS, DETECTORS AND ASSOCIATED EQUIPMENT  
Handle: http://hdl.handle.net/11368/1690997
Appare nelle tipologie:1.1 Articolo in Rivista

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