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    • Andreev Reflection in Engineered Al/Si/InxGa1-xAs(001) Junctions / DE FRANCESCHI S.; GIAZOTTO F.; BELTRAM F.; SORBA L.; LAZZARINO M.; FRANCIOSI A.. - In: PHILOSOPHICAL MAGAZINE. B. PHYSICS OF CONDENSED MATTER. STATISTICAL MECHANICS, ELECTRONIC, OPTICAL AND MAGNETIC PROPERTIES. - ISSN 1364-2812. - 80(2000), pp. 817-822.


    Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: http://hdl.handle.net/11368/1694140

    Titolo: Andreev Reflection in Engineered Al/Si/InxGa1-xAs(001) Junctions
    Autori interni: FRANCIOSI, ALFONSO
    Data di pubblicazione: 2000
    Rivista: PHILOSOPHICAL MAGAZINE. B. PHYSICS OF CONDENSED MATTER. STATISTICAL MECHANICS, ELECTRONIC, OPTICAL AND MAGNETIC PROPERTIES  
    Handle: http://hdl.handle.net/11368/1694140
    Appare nelle tipologie:1.1 Articolo in Rivista

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