High Resolution Transmission Electron Microscopy to Study Very Thin Crystalline Layers Buried at an Amorphous-crystalline Interface / RE M.; CARLINO E.; SORBA L.; FRANCIOSI A.; B.H. MLLER B.H.. - In: MICRON. - ISSN 0968-4328. - 31:(2000), pp. 237-243.
Titolo: | High Resolution Transmission Electron Microscopy to Study Very Thin Crystalline Layers Buried at an Amorphous-crystalline Interface | |
Autori: | ||
Data di pubblicazione: | 2000 | |
Rivista: | ||
Handle: | http://hdl.handle.net/11368/1694142 | |
Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in Rivista |
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