High Resolution Transmission Electron Microscopy to Study Very Thin Crystalline Layers Buried at an Amorphous-crystalline Interface / Re, M., Carlino, E., Sorba, L., Franciosi, A., B. H. MLLER B., H.. - In: MICRON. - ISSN 0968-4328. - 31:(2000), pp. 237-243.
High Resolution Transmission Electron Microscopy to Study Very Thin Crystalline Layers Buried at an Amorphous-crystalline Interface
FRANCIOSI, ALFONSO;
2000-01-01
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.


