Transmission Electron Microscopy Studies of the Microstructure of Si Layers Grown on GaAs(001) under an Excess As or Al Flux / Carlino, E.; Sorba, L.; Franciosi, Alfonso; Heun, S.; Mller, B. H.. - In: PHILOSOPHICAL MAGAZINE. B. PHYSICS OF CONDENSED MATTER. STATISTICAL MECHANICS, ELECTRONIC, OPTICAL AND MAGNETIC PROPERTIES. - ISSN 1364-2812. - 80:(2000), pp. 1055-1069.
Transmission Electron Microscopy Studies of the Microstructure of Si Layers Grown on GaAs(001) under an Excess As or Al Flux
FRANCIOSI, ALFONSO;
2000-01-01
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