Transmission Electron Microscopy Studies of the Microstructure of Si Layers Grown on GaAs(001) under an Excess As or Al Flux / CARLINO E.; SORBA L.; FRANCIOSI A.; HEUN S.; MLLER B.H.. - In: PHILOSOPHICAL MAGAZINE. B. PHYSICS OF CONDENSED MATTER. STATISTICAL MECHANICS, ELECTRONIC, OPTICAL AND MAGNETIC PROPERTIES. - ISSN 1364-2812. - 80:(2000), pp. 1055-1069.
Titolo: | Transmission Electron Microscopy Studies of the Microstructure of Si Layers Grown on GaAs(001) under an Excess As or Al Flux | |
Autori: | ||
Data di pubblicazione: | 2000 | |
Rivista: | ||
Handle: | http://hdl.handle.net/11368/1694143 | |
Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in Rivista |
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