Cathodoluminescence Spectroscopy of Deep Defect Levels at the ZnSe/GaAs Interface with Composition-control Interface Layer / Schaefer, J., Young, A.P., Levin, T.M., Brillson, L.J., Paggel, J.J., Vanzetti, L., Franciosi, A.. - In: JOURNAL OF ELECTRONIC MATERIALS. - ISSN 0361-5235. - 28:(1999), pp. 881-889.

Cathodoluminescence Spectroscopy of Deep Defect Levels at the ZnSe/GaAs Interface with Composition-control Interface Layer

FRANCIOSI, ALFONSO
1999-01-01

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