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EnglishCathodoluminescence Spectroscopy of Deep Defect Levels at the ZnSe/GaAs Interface with Composition-control Interface Layer / SCHAEFER J.; YOUNG A.P.; LEVIN T.M.; BRILLSON L.J.; PAGGEL J.J.; VANZETTI L.; FRANCIOSI A.. - In: JOURNAL OF ELECTRONIC MATERIALS. - ISSN 0361-5235. - 28(1999), pp. 881-889.
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http://hdl.handle.net/11368/1694147| Titolo: | Cathodoluminescence Spectroscopy of Deep Defect Levels at the ZnSe/GaAs Interface with Composition-control Interface Layer |
| Autori interni: | FRANCIOSI, ALFONSO |
| Data di pubblicazione: | 1999 |
| Rivista: | JOURNAL OF ELECTRONIC MATERIALS |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11368/1694147 |
| Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in Rivista |
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