Cathodoluminescence Spectroscopy of Deep Defect Levels at the ZnSe/GaAs Interface with Composition-control Interface Layer

Cathodoluminescence Spectroscopy of Deep Defect Levels at the ZnSe/GaAs Interface with Composition-control Interface Layer / SCHAEFER J.; YOUNG A.P.; LEVIN T.M.; BRILLSON L.J.; PAGGEL J.J.; VANZETTI L.; FRANCIOSI A.. - In: JOURNAL OF ELECTRONIC MATERIALS. - ISSN 0361-5235. - 28(1999), pp. 881-889.



Titolo: Cathodoluminescence Spectroscopy of Deep Defect Levels at the ZnSe/GaAs Interface with Composition-control Interface Layer
Autori: 
FRANCIOSI, ALFONSO
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Data di pubblicazione: 1999
Rivista: 
JOURNAL OF ELECTRONIC MATERIALS  
Handle: http://hdl.handle.net/11368/1694147
Appare nelle tipologie:1.1 Articolo in Rivista

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