High-resolution potential mapping in semiconductor nanostructures by cross-sectional scanning tunneling microscopy and spettroscopy / Modesti, Silvio; D., Furlanetto; M., Piccin; S., Rubini; Franciosi, Alfonso. - In: APPLIED PHYSICS LETTERS. - ISSN 0003-6951. - 82:(2003), pp. 1932-1935.
High-resolution potential mapping in semiconductor nanostructures by cross-sectional scanning tunneling microscopy and spettroscopy
MODESTI, SILVIO;FRANCIOSI, ALFONSO
2003-01-01
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