• Aiuto
  • Sfoglia

    • High-resolution potential mapping in semiconductor nanostructures by cross-sectional scanning tunneling microscopy and spettroscopy / MODESTI S.; D. FURLANETTO; M. PICCIN; S. RUBINI; A. FRANCIOSI. - In: APPLIED PHYSICS LETTERS. - ISSN 0003-6951. - 82(2003), pp. 1932-1935.


    Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: http://hdl.handle.net/11368/1696349

    Titolo: High-resolution potential mapping in semiconductor nanostructures by cross-sectional scanning tunneling microscopy and spettroscopy
    Autori interni: MODESTI, SILVIO
    FRANCIOSI, ALFONSO
    Data di pubblicazione: 2003
    Rivista: APPLIED PHYSICS LETTERS  
    Handle: http://hdl.handle.net/11368/1696349
    Appare nelle tipologie:1.1 Articolo in Rivista

    File in questo prodotto:
    Non ci sono file associati a questo prodotto.

    I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
     
     
     
    ©2014 University of Trieste dove siamo Privacy
    Piazzale Europa,1 34127 Trieste, Italia - Tel. +39 040.558.7111 - P.IVA 00211830328 - C.F. 80013890324 - P.E.C.: ateneo@pec.units.it
     Copyright © 2017