High-resolution potential mapping in semiconductor nanostructures by cross-sectional scanning tunneling microscopy and spettroscopy / MODESTI S.; D. FURLANETTO; M. PICCIN; S. RUBINI; A. FRANCIOSI. - In: APPLIED PHYSICS LETTERS. - ISSN 0003-6951. - 82(2003), pp. 1932-1935.
Titolo: | High-resolution potential mapping in semiconductor nanostructures by cross-sectional scanning tunneling microscopy and spettroscopy |
Autori: | |
Data di pubblicazione: | 2003 |
Rivista: | |
Handle: | http://hdl.handle.net/11368/1696349 |
Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in Rivista |
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