Atomic resolution composition analysis by scanning transmission electron microscopy high-angle annular dark-field imaging / Modesti, S., E., C., D., F., M., P., S., R., Franciosi, A.. - In: APPLIED PHYSICS LETTERS. - ISSN 0003-6951. - 83:(2003), pp. 662-664.
Atomic resolution composition analysis by scanning transmission electron microscopy high-angle annular dark-field imaging
MODESTI, SILVIO;FRANCIOSI, ALFONSO
2003-01-01
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