Atomic resolution composition analysis by scanning transmission electron microscopy high-angle annular dark-field imaging / Modesti, Silvio; E., Carlino; D., Furlanetto; M., Piccin; S., Rubini; Franciosi, Alfonso. - In: APPLIED PHYSICS LETTERS. - ISSN 0003-6951. - 83:(2003), pp. 662-664.
Atomic resolution composition analysis by scanning transmission electron microscopy high-angle annular dark-field imaging
MODESTI, SILVIO;FRANCIOSI, ALFONSO
2003-01-01
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