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Characterization of Si-doped GaAs cross-sectional surfaces via ab initio simulations / Duan, X.; Peressi, Maria; Baroni, S.. - In: PHYSICAL REVIEW. B, CONDENSED MATTER AND MATERIALS PHYSICS. - ISSN 1098-0121. - 72:(2005), pp. 083541-1-083541-15. [10.1103/PhysRevB.72.085341]
Characterization of Si-doped GaAs cross-sectional surfaces via ab initio simulations
PERESSI, MARIA;
2005-01-01
Abstract
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