Analyzer-based X-ray phase contrast imaging with four bounce Si(444) monochromators at ELETTRA / Honnicke, M. G.; Rigon, Luigi; Arfelli, Fulvia; Menk, R. H.; Cusatis, C.. - In: PHYSICA STATUS SOLIDI. A, APPLICATIONS AND MATERIALS SCIENCE. - ISSN 1862-6300. - 204:(2007), pp. 2740-2745.
Analyzer-based X-ray phase contrast imaging with four bounce Si(444) monochromators at ELETTRA
RIGON, LUIGI;ARFELLI, FULVIA;
2007-01-01
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