Raman spectroscopic investigation of the stress state in silicon substrates near edges of Pt/PZT microstructures / R., Krawietz; W., Pompe; Sergo, Valter. - In: CRYSTAL RESEARCH AND TECHNOLOGY. - ISSN 0232-1300. - 35:(2000), pp. 449-460.
Raman spectroscopic investigation of the stress state in silicon substrates near edges of Pt/PZT microstructures
SERGO, VALTER
2000-01-01
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