Beam-test results of 4k pixel CMOS MAPS and high resistivity striplet detectors equipped with digital sparsified readout in the Slim5 low mass silicon demonstrator
BOMBEN, MARCO;BOSISIO, LUCIANO;GIACOMINI, GABRIELE;LANCERI, LIVIO;RASHEVSKAYA, IRINA;VITALE, LORENZO;
2010-01-01
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