Deep n-well MAPS in a 130 nm CMOS technology: Beam test results / Bomben, M., Bosisio, L., Giacomini, G., Lanceri, L., Rashevskaya, I., Vitale, L., et al SLIM5, C.. - In: NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH. SECTION A, ACCELERATORS, SPECTROMETERS, DETECTORS AND ASSOCIATED EQUIPMENT. - ISSN 0168-9002. - STAMPA. - 623:(2010), pp. 195-197. [10.1016/j.nima.2010.02.193]
Deep n-well MAPS in a 130 nm CMOS technology: Beam test results
BOMBEN, MARCO;BOSISIO, LUCIANO;GIACOMINI, GABRIELE;LANCERI, LIVIO;RASHEVSKAYA, IRINA;VITALE, LORENZO;
2010-01-01
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