Deep n-well MAPS in a 130 nm CMOS technology: Beam test results

Bomben, Marco; Bosisio, Luciano; Giacomini, Gabriele; Lanceri, Livio; Rashevskaya, Irina; Vitale, Lorenzo; et al SLIM5 Collaboration,

doi:10.1016/j.nima.2010.02.193

Deep n-well MAPS in a 130 nm CMOS technology: Beam test results / Bomben M;Bosisio L;Giacomini G;Lanceri L;Rashevskaya I.;Vitale L;et al SLIM5 Collaboration. - In: NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH. SECTION A, ACCELERATORS, SPECTROMETERS, DETECTORS AND ASSOCIATED EQUIPMENT. - ISSN 0168-9002. - STAMPA. - 623(2010), pp. 195-197.

Titolo:	Deep n-well MAPS in a 130 nm CMOS technology: Beam test results
Autori:	BOMBEN, MARCO BOSISIO, LUCIANO GIACOMINI, GABRIELE LANCERI, LIVIO RASHEVSKAYA, IRINA VITALE, LORENZO et al SLIM5 Collaboration mostra contributor esterni nascondi contributor esterni
Data di pubblicazione:	2010
Rivista:	NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH. SECTION A, ACCELERATORS, SPECTROMETERS, DETECTORS AND ASSOCIATED EQUIPMENT
Handle:	http://hdl.handle.net/11368/2297793
Digital Object Identifier (DOI):	http://dx.doi.org/10.1016/j.nima.2010.02.193
Appare nelle tipologie:	1.1 Articolo in Rivista

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