Deep n-well MAPS in a 130 nm CMOS technology: Beam test results / Bomben M;Bosisio L;Giacomini G;Lanceri L;Rashevskaya I.;Vitale L;et al SLIM5 Collaboration. - In: NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH. SECTION A, ACCELERATORS, SPECTROMETERS, DETECTORS AND ASSOCIATED EQUIPMENT. - ISSN 0168-9002. - STAMPA. - 623(2010), pp. 195-197.
Titolo: | Deep n-well MAPS in a 130 nm CMOS technology: Beam test results |
Autori: | |
Data di pubblicazione: | 2010 |
Rivista: | |
Handle: | http://hdl.handle.net/11368/2297793 |
Digital Object Identifier (DOI): | http://dx.doi.org/10.1016/j.nima.2010.02.193 |
Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in Rivista |
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