Raman microprobe evaluation in bridging stresses in highly anisotropic silicon nitride / Sbaizero, O., Ichimaru, I., Ferroni, L.P., Hirao, K., Pezzotti, G.. - In: JOURNAL OF THE AMERICAN CERAMIC SOCIETY. - ISSN 0002-7820. - STAMPA. - 8/84:(2001), pp. 18785-1790.
Raman microprobe evaluation in bridging stresses in highly anisotropic silicon nitride
SBAIZERO, ORFEO;
2001-01-01
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