Noise Characterization of Double-Sided Silicon Microstrip Detectors With Punch-Through Biasing / Giacomini, Gabriele; Bosisio, Luciano; Rashevskaya, Irina; Oleksandr, Starodubtsev. - In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE. - ISSN 0018-9499. - STAMPA. - 58/2011:(2011), pp. 569-576. [10.1109/TNS.2011.2107749]
Noise Characterization of Double-Sided Silicon Microstrip Detectors With Punch-Through Biasing
GIACOMINI, GABRIELE;BOSISIO, LUCIANO;RASHEVSKAYA, IRINA;
2011-01-01
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