Defect and stress characterization of AlN films by Raman spectroscopy / Lughi, V., Clarke, D.R.. - In: APPLIED PHYSICS LETTERS. - ISSN 1077-3118. - STAMPA. - 89 (24):(2006), pp. 241911--.

Defect and stress characterization of AlN films by Raman spectroscopy

LUGHI, VANNI;
2006-01-01

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