How to select fast scanning frequencies for high-resolution fast STM measurements with a conventional microscope / Dri, Carlo; Friedrich, Esch; Cristina, Africh; Comelli, Giovanni. - In: MEASUREMENT SCIENCE & TECHNOLOGY. - ISSN 0957-0233. - STAMPA. - 23:(2012), pp. 055402-1-055402-9. [10.1088/0957-0233/23/5/055402]
How to select fast scanning frequencies for high-resolution fast STM measurements with a conventional microscope
DRI, CARLO;COMELLI, GIOVANNI
2012-01-01
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