Measurement of the tau polarisation at the Z resonance

Buskulic, D.; Decamp, D.; Goy, C.; Lees, J. P.; Minard, M. N.; Mours, B.; Pietrzyk, B.; Alemany, R.; Ariztizabal, F.; Comas, P.; Crespo, J. M.; Delfino, M.; Fenandez, E.; Fernandez Bosman, M.; Gaitan, V.; Garrido, L. l.; Mattison, T.; Pacheco, A.; Padilla, C.; Pascual, A.; Creanza, D.; Palma, M.; Farilla, A.; Iaselli, G.; Maggi, G.; Maggi, M.; Natali, S.; Nuzzo, S.; Quattromini, M.; Ranieri, A.; Raso, G.; Romano, F.; Ruggieri, F.; Selvaggi, G.; Silvestris, L.; Tempesta, P.; Zito, G.; Chai, Y.; Hu, H.; Huang, D.; Huang, X.; Lin, J.; Wang, T.; Xie, Y.; Xu, D.; Xu, R.; Zhang, J.; Zhao, W.; Bauerdick, L. A. T.; Blucher, E.; Bonvicini, G.; Boudreau, J.; Casper, D.; Drevermann, H.; Forty, R. W.; Ganis, G.; Gay, C.; Hagelberg, R.; Harvey, J.; Haywood, S.; Hilgart, J.; Jacobsen, R.; Jost, B.; Knobloch, J.; Lehraus, I.; Lohse, T.; Lusiani, A.; Martinez, M.; Mato, P.; Meinhard, H.; Minten, A.; Miotto, A.; Miquel, R.; Moser, H. G.; Palazzi, P.; Perlas, J. A.; Pusztaszeri, J. F.; Ranjard, F.; Redlinger, G.; Rolandi, L.; Rothberg, J.; Ruan, T.; Saich, M.; Schlatter, D.; Schmelling, M.; Sefkow, F.; Tejessy, W.; Wachsmuth, H.; Wiedenmann, W.; Wildish, T.; Witzeling, W.; Wotschack, J.; Ajaltouni, Z.; Badaud, F.; Bardadin Otwinowska, M.; Fellous, R.; Falvard, A.; Gay, P.; Guicheney, C.; Henrard, P.; Jousset, J.; Michel, B.; Montret, J. C.; Pallin, D.; Perret, P.; Podlyski, F.; Proriol, J.; Prulhi�re, F.; Saadi, F.; Fearnley, T.; Hansen, J. D.; Hansen, J. R.; Hansen, P. H.; M�llerud, R.; Nilsson, B. S.; Candlin, D. J.; Parsons, M. I.; Veitch, E.; Moneta, L.; Parrini, G.; Corden, M.; Georgiopoulos, C.; Ikeda, M.; Lannutti, J.; Levinthal, D.; Mermikides, M.; Sawyer, L.; Wasserbaech, S.; Antonelli, A.; Baldini, R.; Bencivenni, G.; Bologna, G.; Bossi, F.; Campana, P.; Capon, G.; Cerutti, F.; Chiarella, V.; D'Ettorre Piazzoli, B.; Felici, G.; Laurelli, P.; Mannocchi, G.; Murtas, F.; Murtas, G. P.; Passalacqua, L.; Pepe Altarelli, M.; Picchi, P.; Colrain, P.; Have, I.; Lynch, J. G.; Maitland, W.; Morton, W. T.; Raine, C.; Reeves, P.; Scarr, J. M.; Smith, K.; Smith, M. G.; Thompson, A. S.; Turnbull, R. M.; Brandl, B.; Braun, O.; Geweniger, C.; Hanke, P.; Hepp, V.; Kluge, E. E.; Maumary, Y.; Putzer, A.; Rensch, B.; Stahl, A.; Tittel, K.; Wunsch, M.; Belk, A. T.; Beuselinck, R.; Binnie, D. M.; Cameron, W.; Cattaneo, M.; Colling, D. J.; Dornan, P. J.; Dugeay, S.; Greene, A. M.; Hassaed, J. F.; Lieske, N. M.; Nash, J.; Payne, D. G.; Phillips, M. J.; Sedgbeer, J. K.; Tomalin, I. R.; Wright, A. G.; Girtler, P.; Kneringer, E.; Kuhn, D.; Rudolph, G.; Bowdery, C. K.; Brodbeck, T. J.; Finch, A. J.; Foster, F.; Hughes, G.; Jackson, D.; Keemer, N. R.; Nuttall, M.; Patel, A.; Sloan, T.; Snow, S. W.; Whelan, E. P.; Efthymiopoulos, I.; Kyriakis, A.; Simopoulou, E.; Vayaki, A.; Zachariadou, K.; Badier, J.; Blondel, A.; Bonneaud, G.; Brient, J. C.; Fouque, G.; Orteu, S.; Roug�, A.; Rumpf, M.; Tanaka, R.; Verderi, M.; Videau, H.; Adlung, S.; Assmann, R.; Bauer, C.; Blum, W.; Brown, D.; Cattaneo, P.; Dehning, B.; Dietl, H.; Dydak, F.; Frank, M.; Halley, A. W.; Lauber, J.; L�tjens, G.; Lutz, G.; M�nner, W.; Richter, R.; Rotscheidt, H.; Schr�der, J.; Schwarz, A. S.; Settles, R.; Seywerd, H.; Stierlin, U.; Stiegler, U.; Denis, R. S. t.; Wolf, G.; Boucrot, J.; Callot, O.; Cordier, A.; Davier, M.; Duflot, L.; Grivaz, J. F.; Heusse, P. h.; Jaffe, D. E.; Janot, P.; Kim, D. W.; Diberder, F.; Lefran�ois, J.; Lutz, A. M.; Schune, M. H.; Veillet, J. J.; Videau, I.; Zhang, Z.; Abbaneo, D.; Bagliesi, G.; Batignani, G.; Bosisio, Luciano; Bottigli, U.; Bozzi, C.; Calderini, G.; Carpinelli, M.; Ciocci, M. A.; Dell'Orso, R.; Ferrante, I.; Fidecaro, F.; Foa, L.; Focardi, E.; Forti, F.; Giassi, A.; Giorgi, M. A.; Gregorio, Anna; Ligabue, F.; Mannelli, E. B.; Marrocchesi, P. S.; Messineo, A.; Palla, F.; Rizzo, G.; Sanguinetti, G.; Spagnolo, P.; Steinberger, J.; Tenchini, R.; Tonelli, G.; Triggiani, G.; Vannini, C.; Venturi, A.; Verdini, P. G.; Walsh, J.; Betteridge, A. P.; Carter, J. M.; Green, M. G.; March, P. V.; Mir, L. l. M.; Medcalf, T.; Quazi, I. S.; Strong, J. A.; West, L. R.; Botterill, D. R.; Clifft, R. W.; Edgecock, T. R.; Edwards, M.; Fisher, S. M.; Jones, T. J.; Norton, P. R.; Salmon, D. P.; Thompson, J. C.; Kleinknecht, K.; Raab, J.; Renk, B.; Sander, H. G.; Schmidt, H.; Steeg, F.; Walther, S. M.; Wanke, R.; Wolf, B.; Aubert, J. J.; Bencheikh, A. M.; Benchouk, C.; Bonissent, A.; Carr, J.; Coyle, P.; Drinkard, J.; Etienne, F.; Nicod, D.; Papalexiou, S.; Payre, P.; Roos, L.; Rousseau, D.; Schwemling, P.; Talby, M.; Bloch Devaux, B.; Colas, P.; Duarte, H.; Kozanecki, W.; Lan�on, E.; Lemaire, M. C.; Locci, E.; Perez, P.; Perrier, F.; Rander, J.; Renardy, J. F.; Rosowsky, A.; Roussarie, A.; Schuller, J. P.; Schwindling, J.; Mohand, D.; Vallage, B.; Johnson, R. P.; Litke, A. M.; Taylor, G.; Wear, J.; Ashman, J. G.; Babbage, W.; Booth, C. N.; Buttar, C.; Carney, R. E.; Cartwright, S.; Combley, F.; Hatfield, F.; Thompson, L. F.; Barberio, E.; B�hrer, A.; Brandt, S.; Cowan, G.; Grupen, C.; Lutters, G.; Rivera, F.; Sch�fer, U.; Della Marina, R.; Giannini, Gianrossano; Gobbo, B.; Ragusa, F.; Bellantoni, L.; Chen, W.; Cinabro, D.; Conway, J. S.; Cowen, D. F.; Feng, Z.; Ferguson, D. P. S.; Gao, Y. S.; Grahl, J.; Harton, J. L.; Jared, R. C.; Leclaire, B. W.; Lishka, C.; Pan, Y. B.; Pater, J. R.; Saadi, Y.; Schmitt, M.; Sharma, V.; Shi, Z. H.; Walsh, A. M.; Weber, F. V.; Sau Lan Wu,; Wu, X.; Zheng, M.; Zobernig, G.

doi:10.1007/BF01498618

Using 18.8 pb-1 of data collected in 1990 and 1991, ALEPH has measured the tau polarisation in the decay modes τ→ ev bar v, τ→μ v bar v, τ→πν, τ→ρν and τ→ a 1ν, using both the individual tau decay kinematics and the event acollinearity. The measurement of the tau polarisation as a function of the production polar angle yields the two parameters A τ and A e , where A l =2 g {/v l } g {/A l }/( g {/v l })2+( g {/A l })2] The results A τ=0.143±0.023 and A e =0.120±0.026 are consistent with the hypothesis of electron-tau universality. Assuming universality yields a measurement of the effective weak mixing angle sin2θ{/w eff}=0.2332±0.0022.