B-flavor tagging at Belle II

Abudin??n, F.; Akopov, N.; Aloisio, A.; Babu, V.; Banerjee, Sw.; Bauer, M.; Bennett, J. V.; Bernlochner, F. U.; Bessner, M.; Bettarini, S.; Bilka, T.; Bilokin, S.; Biswas, D.; Bodrov, D.; Borah, J.; Bra??ko, M.; Branchini, P.; Budano, A.; Campajola, M.; Casarosa, G.; Cecchi, C.; Cheaib, R.; Chekelian, V.; Chen, C.; Chen, Y. Q.; Cho, H. -E.; Cunliffe, S.; De Nardo, G.; De Pietro, G.; De Sangro, R.; Dey, S.; Di Canto, A.; Di Capua, F.; Dong, T. V.; Dujany, G.; Ecker, P.; Eliachevitch, M.; Ferber, T.; Forti, F.; Ganiev, E.; Gaz, A.; Gelb, M.; Gemmler, J.; Godang, R.; Goldenzweig, P.; Graziani, E.; Hara, K.; Hershenhorn, A.; Higuchi, T.; Hill, E. C.; Hohmann, M.; Humair, T.; Inguglia, G.; Junkerkalefeld, H.; Karl, R.; Kato, Y.; Keck, T.; Kiesling, C.; Kim, C. -H.; Kohani, S.; Komarov, I.; Kraetzschmar, T. M. G.; Kri??an, P.; Krohn, J. F.; Kuhr, T.; Kumar, J.; Kumara, K.; Kurz, S.; Lacaprara, S.; La Licata, C.; Laurenza, M.; Lautenbach, K.; Lee, S. C.; Lieret, K.; Li Gioi, L.; Liu, Q. Y.; Longo, S.; Maggiora, M.; Manoni, E.; Marinas, C.; Martini, A.; Meier, F.; Merola, M.; Metzner, F.; Milesi, M.; Miyabayashi, K.; Mohanty, G. B.; Mueller, F.; Murphy, C.; Oxford, E. R.; Park, S. -H.; Passeri, A.; Pham, F.; Piilonen, L. E.; Pokharel, S.; Prim, M. T.; Pulvermacher, C.; Rados, P.; Ritter, M.; Rostomyan, A.; Sandilya, S.; Santelj, L.; Sato, Y.; Schwartz, A. J.; Sevior, M. E.; Soffer, A.; Spataro, S.; Stroili, R.; Sutcliffe, W.; Tagnani, D.; Takizawa, M.; Tamponi, U.; Tenchini, F.; Torassa, E.; Urquijo, P.; Vitale, L.; Yusa, Y.; Zani, L.; Zhou, Q. D.; ??leb????k, R.; Zupanc, A.

doi:10.1140/epjc/s10052-022-10180-9

We report on new flavor tagging algorithms developed to determine the quark-flavor content of bottom (B) mesons at Belle II. The algorithms provide essential inputs for measurements of quark-flavor mixing and charge-parity violation. We validate and evaluate the performance of the algorithms using hadronic B decays with flavor-specific final states reconstructed in a data set corresponding to an integrated luminosity of 62.8 fb(-1), collected at the gamma(4S) resonance with the Belle II detector at the SuperKEKB collider. We measure the total effective tagging efficiency to be epsilon(eff) = (30.0 +/- 1.2(stat) +/- 0.4(syst))% for a category-based algorithm and epsilon(eff) = (28.8 +/- 1.2(stat) +/- 0.4(syst))% for a deep-learning-based algorithm.

B-flavor tagging at Belle II / Abudin??n, F.; Akopov, N.; Aloisio, A.; Babu, V.; Banerjee, Sw.; Bauer, M.; Bennett, J. V.; Bernlochner, F. U.; Bessner, M.; Bettarini, S.; Bilka, T.; Bilokin, S.; Biswas, D.; Bodrov, D.; Borah, J.; Bra??ko, M.; Branchini, P.; Budano, A.; Campajola, M.; Casarosa, G.; Cecchi, C.; Cheaib, R.; Chekelian, V.; Chen, C.; Chen, Y. Q.; Cho, H. -E.; Cunliffe, S.; De Nardo, G.; De Pietro, G.; de Sangro, R.; Dey, S.; Di Canto, A.; Di Capua, F.; Dong, T. V.; Dujany, G.; Ecker, P.; Eliachevitch, M.; Ferber, T.; Forti, F.; Ganiev, E.; Gaz, A.; Gelb, M.; Gemmler, J.; Godang, R.; Goldenzweig, P.; Graziani, E.; Hara, K.; Hershenhorn, A.; Higuchi, T.; Hill, E. C.; Hohmann, M.; Humair, T.; Inguglia, G.; Junkerkalefeld, H.; Karl, R.; Kato, Y.; Keck, T.; Kiesling, C.; Kim, C. -H.; Kohani, S.; Komarov, I.; Kraetzschmar, T. M. G.; Kri??an, P.; Krohn, J. F.; Kuhr, T.; Kumar, J.; Kumara, K.; Kurz, S.; Lacaprara, S.; La Licata, C.; Laurenza, M.; Lautenbach, K.; Lee, S. C.; Lieret, K.; Li Gioi, L.; Liu, Q. Y.; Longo, S.; Maggiora, M.; Manoni, E.; Marinas, C.; Martini, A.; Meier, F.; Merola, M.; Metzner, F.; Milesi, M.; Miyabayashi, K.; Mohanty, G. B.; Mueller, F.; Murphy, C.; Oxford, E. R.; Park, S. -H.; Passeri, A.; Pham, F.; Piilonen, L. E.; Pokharel, S.; Prim, M. T.; Pulvermacher, C.; Rados, P.; Ritter, M.; Rostomyan, A.; Sandilya, S.; Santelj, L.; Sato, Y.; Schwartz, A. J.; Sevior, M. E.; Soffer, A.; Spataro, S.; Stroili, R.; Sutcliffe, W.; Tagnani, D.; Takizawa, M.; Tamponi, U.; Tenchini, F.; Torassa, E.; Urquijo, P.; Vitale, L.; Yusa, Y.; Zani, L.; Zhou, Q. D.; ??leb????k, R.; Zupanc, A.. - In: THE EUROPEAN PHYSICAL JOURNAL. C, PARTICLES AND FIELDS. - ISSN 1434-6044. - ELETTRONICO. - 82:4(2022), pp. 1-29. [10.1140/epjc/s10052-022-10180-9]