Measurement of CP asymmetries and branching-fraction ratios for B± → DK± and Dπ± with D → K0 SK±π∓ using Belle and Belle II data

Adachi, I.; Aggarwal, L.; Aihara, H.; Akopov, N.; Aloisio, A.; Anh Ky, N.; Asner, D. M.; Aushev, T.; Aushev, V.; Aversano, M.; Ayad, R.; Babu, V.; Bae, H.; Bahinipati, S.; Bambade, P.; Banerjee, Sw.; Barrett, M.; Baudot, J.; Bauer, M.; Baur, A.; Beaubien, A.; Becker, J.; Behera, P. K.; Bennett, J. V.; Bernlochner, F. U.; Bertacchi, V.; Bertemes, M.; Bertholet, E.; Bessner, M.; Bettarini, S.; Bhuyan, B.; Bianchi, F.; Bilka, T.; Biswas, D.; Bobrov, A.; Bodrov, D.; Bolz, A.; Bondar, A.; Borah, J.; Bozek, A.; Bračko, M.; Branchini, P.; Briere, R. A.; Browder, T. E.; Budano, A.; Bussino, S.; Campajola, M.; Cao, L.; Casarosa, G.; Cecchi, C.; Cerasoli, J.; Chang, M. -C.; Chang, P.; Cheaib, R.; Cheema, P.; Chekelian, V.; Cheon, B. G.; Chilikin, K.; Chirapatpimol, K.; Cho, H. -E.; Cho, K.; Choi, S. -K.; Choi, Y.; Choudhury, S.; Cochran, J.; Corona, L.; Cremaldi, L. M.; Das, S.; Dattola, F.; De La Cruz-Burelo, E.; De La Motte, S. A.; De Nardo, G.; De Nuccio, M.; De Pietro, G.; De Sangro, R.; Destefanis, M.; Dey, S.; De Yta-Hernandez, A.; Dhamija, R.; Di Canto, A.; Di Capua, F.; Dingfelder, J.; Doležal, Z.; Domínguez Jiménez, I.; Dong, T. V.; Dorigo, M.; Dort, K.; Dreyer, S.; Dubey, S.; Dujany, G.; Ecker, P.; Epifanov, D.; Feichtinger, P.; Ferber, T.; Ferlewicz, D.; Fillinger, T.; Finck, C.; Finocchiaro, G.; Fodor, A.; Forti, F.; Frey, A.; Fulsom, B. G.; Gabrielli, A.; Ganiev, E.; Garcia-Hernandez, M.; Garg, R.; Garmash, A.; Gaudino, G.; Gaur, V.; Gaz, A.; Gellrich, A.; Ghevondyan, G.; Ghosh, D.; Ghumaryan, H.; Giakoustidis, G.; Giordano, R.; Giri, A.; Gobbo, B.; Godang, R.; Gogota, O.; Goldenzweig, P.; Gradl, W.; Graziani, E.; Greenwald, D.; Gruberová, Z.; Gu, T.; Guan, Y.; Gudkova, K.; Halder, S.; Han, Y.; Hara, T.; Hayasaka, K.; Hazra, S.; Hedges, M. T.; Heredia De La Cruz, I.; Hernández Villanueva, M.; Hershenhorn, A.; Higuchi, T.; Hill, E. C.; Hoek, M.; Hohmann, M.; Hou, W. -S.; Hsu, C. -L.; Iijima, T.; Inami, K.; Ipsita, N.; Ishikawa, A.; Ito, S.; Itoh, R.; Iwasaki, M.; Jackson, P.; Jacobs, W. W.; Jaffe, D. E.; Jang, E. -J.; Q. P., Ji; Jia, S.; Jin, Y.; Johnson, A.; Junkerkalefeld, H.; Kaliyar, A. B.; Kandra, J.; Kang, K. H.; Karyan, G.; Kawasaki, T.; Keil, F.; Ketter, C.; Kiesling, C.; Kim, C. -H.; Kim, D. Y.; Kim, K. -H.; Kim, Y. -K.; Kindo, H.; Kinoshita, K.; Kodyš, P.; Koga, T.; Kohani, S.; Kojima, K.; Korobov, A.; Korpar, S.; Kovalenko, E.; Kowalewski, R.; Kraetzschmar, T. M. G.; Križan, P.; Krokovny, P.; Kuhr, T.; Kumar, M.; Kumara, K.; Kunigo, T.; Kuzmin, A.; Kwon, Y. -J.; Lacaprara, S.; Lai, Y. -T.; Lam, T.; Lanceri, L.; Lange, J. S.; Laurenza, M.; Lautenbach, K.; Leboucher, R.; Le Diberder, F. R.; Leitl, P.; Levit, D.; Lewis, P. M.; Li, C.; L. K., Li; Libby, J.; Liu, Q. Y.; Liu, Z. Q.; Liventsev, D.; Longo, S.; Lueck, T.; Luo, T.; Lyu, C.; Ma, Y.; Maggiora, M.; Maharana, S. P.; Maiti, R.; Maity, S.; Mancinelli, G.; Manfredi, R.; Manoni, E.; Mantovano, M.; Marcantonio, D.; Marinas, C.; Martellini, C.; Martini, A.; Martinov, T.; Massaccesi, L.; Masuda, M.; Matsuda, T.; Matsuoka, K.; Matvienko, D.; Maurya, S. K.; Mckenna, J. A.; Mehta, R.; Meier, F.; Merola, M.; Metzner, F.; Milesi, M.; Miller, C.; Mirra, M.; Miyabayashi, K.; Mizuk, R.; Mohanty, G. B.; Molina-Gonzalez, N.; Mondal, S.; Moneta, S.; Moser, H. -G.; Mrvar, M.; Mussa, R.; Nakamura, I.; Nakazawa, Y.; Narimani Charan, A.; Naruki, M.; Natkaniec, Z.; Natochii, A.; Nayak, L.; Nazaryan, G.; Nisar, N. K.; Nishida, S.; Ogawa, S.; Ono, H.; Onuki, Y.; Oskin, P.; Otani, F.; Pakhlov, P.; Pakhlova, G.; Paladino, A.; Panta, A.; Paoloni, E.; Pardi, S.; Parham, K.; Park, H.; Park, S. -H.; Passeri, A.; Patra, S.; Paul, S.; Pedlar, T. K.; Peruzzi, I.; Peschke, R.; Pestotnik, R.; Pham, F.; Piccolo, M.; Piilonen, L. E.; Podesta-Lerma, P. L. M.; Podobnik, T.; Pokharel, S.; Praz, C.; Prell, S.; Prencipe, E.; Prim, M. T.; Purwar, H.; Rad, N.; Rados, P.; Raeuber, G.; Raiz, S.; Reif, M.; Reiter, S.; Remnev, M.; Ripp-Baudot, I.; Rizzo, G.; Robertson, S. H.; Roehrken, M.; Roney, J. M.; Rostomyan, A.; Rout, N.; Russo, G.; Sahoo, D.; Sandilya, S.; Sangal, A.; Santelj, L.; Sato, Y.; Savinov, V.; Scavino, B.; Schmitt, C.; Schnell, G.; Schnepf, M.; Schwanda, C.; Schwartz, A. J.; Seino, Y.; Selce, A.; Senyo, K.; Serrano, J.; Sevior, M. E.; Sfienti, C.; Shan, W.; Sharma, C.; Shi, X. D.; Shillington, T.; Shiu, J. -G.; Shtol, D.; Sibidanov, A.; Simon, F.; Singh, J. B.; Skorupa, J.; Sobie, R. J.; Sobotzik, M.; Soffer, A.; Sokolov, A.; Solovieva, E.; Spataro, S.; Spruck, B.; Starič, M.; Stavroulakis, P.; Stefkova, S.; Stottler, Z. S.; Stroili, R.; Sumihama, M.; Sumisawa, K.; Sutcliffe, W.; Svidras, H.; Takahashi, M.; Takizawa, M.; Tamponi, U.; Tanida, K.; Tenchini, F.; Thaller, A.; Tittel, O.; Tiwary, R.; Tonelli, D.; Torassa, E.; Trabelsi, K.; Tsaklidis, I.; Uchida, M.; Ueda, I.; Uglov, T.; Unger, K.; Unno, Y.; Uno, K.; Uno, S.; Urquijo, P.; Ushiroda, Y.; Vahsen, S. E.; Van Tonder, R.; Varner, G. S.; Varvell, K. E.; Veronesi, M.; Vismaya, V. S.; Vitale, L.; Vobbilisetti, V.; Volpe, R.; Wach, B.; Wakai, M.; Wallner, S.; Wang, E.; Wang, M. -Z.; Wang, Z.; Warburton, A.; Watanabe, M.; Watanuki, S.; Welsch, M.; Wessel, C.; Won, E.; X. P., Xu; Yabsley, B. D.; Yamada, S.; Yan, W.; Yang, S. B.; Yin, J. H.; Yoshihara, K.; Yuan, C. Z.; Yusa, Y.; Zani, L.; Zhang, Y.; Zhilich, V.; Zhou, J. S.; Zhou, Q. D.; Zhukova, V. I.; Žlebčík, R.

doi:10.1007/JHEP09(2023)146

We measure CP asymmetries and branching-fraction ratios for B± → DK± and Dπ± decays with D → K±π∓, where D is a superposition of D0 and 0. We use the full data set of the Belle experiment, containing 772 × 106 pairs, and data from the Belle II experiment, containing 387 × 106 pairs, both collected in electron-positron collisions at the Υ(4S) resonance. Our results provide model-independent information on the unitarity triangle angle ϕ3.

Measurement of CP asymmetries and branching-fraction ratios for B± → DK± and Dπ± with D → K0 SK±π∓ using Belle and Belle II data / Adachi, I., Aggarwal, L., Aihara, H., Akopov, N., Aloisio, A., Anh Ky, N., Asner, D.M., Aushev, T., Aushev, V., Aversano, M., Ayad, R., Babu, V., Bae, H., Bahinipati, S., Bambade, P., Banerjee, Sw., Barrett, M., Baudot, J., Bauer, M., Baur, A., et al.. - In: JOURNAL OF HIGH ENERGY PHYSICS. - ISSN 1029-8479. - ELETTRONICO. - 2023:9(2023), pp. 146.1-146.23. [10.1007/JHEP09(2023)146]