Measurements of the branching fractions of $${\Xi }_{c}^{+}\to {\Sigma }^{+}{K}_{S}^{0}$$, $${\Xi }_{c}^{+}\to {\Xi }^{0}{\pi }^{+}$$, and $${\Xi }_{c}^{+}\to {\Xi }^{0}{K}+$$ at Belle and Belle II

Null, Null; Adachi, I.; Ahn, J. K.; Ahn, Y.; Akopov, N.; Alghamdi, S.; Alhakami, M.; Althubiti, N.; Amos, K.; Anh Ky, N.; Antonioli, C.; Asner, D. M.; Aversano, M.; Ayad, R.; Babu, V.; Baghel, N. K.; Bambade, P.; Banerjee, Sw.; Barrett, M.; Bartl, M.; Baudot, J.; Beaubien, A.; Becherer, F.; Becker, J.; Bennett, J. V.; Bertacchi, V.; Bertemes, M.; Bertholet, E.; Bessner, M.; Bettarini, S.; Bhuyan, B.; Bianchi, F.; Biswas, D.; Bodrov, D.; Bondar, A.; Bonvicini, G.; Boschetti, A.; Bozek, A.; Bračko, M.; Branchini, P.; Briere, R. A.; Budano, A.; Bussino, S.; Campagna, Q.; Campajola, M.; Cao, L.; Casarosa, G.; Cecchi, C.; Chang, M. -C.; Cheema, P.; Cheon, B. G.; Chilikin, K.; Chin, J.; Chirapatpimol, K.; Cho, H. -E.; Cho, K.; Cho, S. -J.; Choi, S. -K.; Choudhury, S.; Cochran, J.; Consigny, I.; Corona, L.; Cui, J. X.; De La Cruz-Burelo, E.; De La Motte, S. A.; De Pietro, G.; De Sangro, R.; Destefanis, M.; Dey, S.; Di Canto, A.; Dingfelder, J.; Doležal, Z.; Domínguez Jiménez, I.; Dong, T. V.; Dorigo, M.; Dujany, G.; Ecker, P.; Feichtinger, P.; Ferber, T.; Fillinger, T.; Finck, C.; Finocchiaro, G.; Fodor, A.; Forti, F.; Fulsom, B. G.; Gabrielli, A.; Gale, A.; Garcia-Hernandez, M.; Garg, R.; Gaudino, G.; Gaur, V.; Gautam, V.; Gaz, A.; Gellrich, A.; Ghosh, D.; Ghumaryan, H.; Giordano, R.; Giri, A.; Gironella Gironell, P.; Glazov, A.; Gobbo, B.; Godang, R.; Gogota, O.; Goldenzweig, P.; Gradl, W.; Graziani, E.; Greenwald, D.; Gruberová, Z.; Guan, Y.; Gudkova, K.; Haide, I.; Han, Y.; Hara, T.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Hazra, S.; Hedges, M. T.; Heidelbach, A.; Heredia De La Cruz, I.; Hernández Villanueva, M.; Higuchi, T.; Hoek, M.; Hohmann, M.; Hoppe, R.; Horak, P.; Hsu, C. -L.; Humair, T.; Iijima, T.; Ipsita, N.; Ishikawa, A.; Itoh, R.; Iwasaki, M.; Jacobs, W. W.; Jaffe, D. E.; Jang, E. -J.; Jia, S.; Jin, Y.; Johnson, A.; Joo, K. K.; Junkerkalefeld, H.; Kandra, J.; Kang, K. H.; Karyan, G.; Kawasaki, T.; Keil, F.; Ketter, C.; Kiesling, C.; Kim, C. -H.; Kim, D. Y.; Kim, J. -Y.; Kim, K. -H.; Kim, Y. J.; Kinoshita, K.; Kodyš, P.; Koga, T.; Kohani, S.; Kojima, K.; Korobov, A.; Korpar, S.; Kovalenko, E.; Kowalewski, R.; Križan, P.; Krokovny, P.; Kuhr, T.; Kulii, Y.; Kumara, K.; Kunigo, T.; Kuzmin, A.; Kwon, Y. -J.; Lacaprara, S.; Lam, T.; Lange, J. S.; Lau, T. S.; Laurenza, M.; Leboucher, R.; Le Diberder, F. R.; Lee, M. J.; Lemettais, C.; Leo, P.; H. -J., Li; L. K., Li; Q. M., Li; W. Z., Li; Li, Y.; Y. B., Li; Liao, Y. P.; Libby, J.; Lin, J.; Liu, Q. Y.; Liu, Z. Q.; Liventsev, D.; Longo, S.; Lyu, C.; Ma, Y.; Madaan, C.; Maggiora, M.; Maharana, S. P.; Maiti, R.; Mancinelli, G.; Manfredi, R.; Manoni, E.; Mantovano, M.; Marcantonio, D.; Marcello, S.; Marinas, C.; Martellini, C.; Martens, A.; Martinov, T.; Massaccesi, L.; Masuda, M.; Matvienko, D.; Maushart, M.; Mckenna, J. A.; Mehta, R.; Meier, F.; Meleshko, D.; Merola, M.; Miller, C.; Mirra, M.; Mitra, S.; Miyabayashi, K.; Moneta, S.; Moreira De Carvalho, A. L.; Moser, H. -G.; Nakamura, I.; Nakao, M.; Naruki, M.; Natkaniec, Z.; Natochii, A.; Nayak, M.; Neu, M.; Nishida, S.; Ogawa, S.; Ono, H.; Oxford, E. R.; Pakhlova, G.; Pardi, S.; Park, J.; Park, K.; Park, S. -H.; Passeri, A.; Patra, S.; Peschke, R.; Pestotnik, R.; Piilonen, L. E.; Podesta-Lerma, P. L. M.; Podobnik, T.; Prakash, A.; Praz, C.; Prell, S.; Prencipe, E.; Prim, M. T.; Privalov, S.; Purwar, H.; Rados, P.; Raeuber, G.; Raiz, S.; Raj, V.; Ravindran, K.; Rehman, J. U.; Reif, M.; Reiter, S.; Reuter, L.; Ricalde Herrmann, D.; Ripp-Baudot, I.; Rizzo, G.; Roney, J. M.; Rostomyan, A.; Sanders, D. A.; Sandilya, S.; Santelj, L.; Savinov, V.; Scavino, B.; Schnell, G.; Schoenning, K.; Schwanda, C.; Schwartz, A. J.; Seino, Y.; Selce, A.; Senyo, K.; Sfienti, C.; Shan, W.; Sharma, G.; Shen, C. P.; Shi, X. D.; Shillington, T.; Shimasaki, T.; Shiu, J. -G.; Shtol, D.; Sibidanov, A.; Simon, F.; Skorupa, J.; Sobie, R. J.; Sobotzik, M.; Soffer, A.; Sokolov, A.; Solovieva, E.; Song, W.; Spataro, S.; Spruck, B.; Starič, M.; Stavroulakis, P.; Stefkova, S.; Stroili, R.; Sumihama, M.; Suwonjandee, N.; Svidras, H.; Takahashi, M.; Takizawa, M.; Tamponi, U.; Tang, S. S.; Tanida, K.; Tenchini, F.; Tittel, O.; Tiwary, R.; Torassa, E.; Trabelsi, K.; Tsaklidis, I.; Uchida, M.; Ueda, I.; Uglov, T.; Unger, K.; Unno, Y.; Uno, K.; Uno, S.; Vahsen, S. E.; Van Tonder, R.; Varvell, K. E.; Veronesi, M.; Vismaya, V. S.; Vitale, L.; Vobbilisetti, V.; Volpe, R.; Vossen, A.; Wakai, M.; Wallner, S.; Wang, M. -Z.; Warburton, A.; Watanuki, S.; Wessel, C.; X. P., Xu; Xu, Z.; Yabsley, B. D.; Yamada, S.; Yan, W.; Yan, W. C.; Yelton, J.; Yin, J. H.; Yoshihara, K.; Yuan, C. Z.; Yuan, J.; Zani, L.; Zeng, F.; Zeyrek, M.; Zhang, B.; Zhilich, V.; Zhong, Y.; Zhou, J. S.; Zhou, Q. D.; Zhu, L.; Žlebčík, R.

doi:10.1007/jhep08(2025)195

Using 983.0 fb−1 and 427.9 fb−1 data samples collected with the Belle and Belle II detectors at the KEKB and SuperKEKB asymmetric energy e+e− colliders, respectively, we present studies of the Cabibbo-favored decays and, and the singly Cabibbo-suppressed decay. The ratios of branching fractions of and relative to that of are measured for the first time, while the ratio is also determined and improved by an order of magnitude in precision. The measured branching fraction ratios are Additionally, the ratio is measured to be 0.068 ± 0.010 ± 0.004. Here, the first and second uncertainties are statistical and systematic, respectively. Multiplying the ratios by the branching fraction of the normalization mode,, we obtain the following absolute branching fractions where the third uncertainties are from.

Measurements of the branching fractions of $${\Xi }_{c}^{+}\to {\Sigma }^{+}{K}_{S}^{0}$$, $${\Xi }_{c}^{+}\to {\Xi }^{0}{\pi }^{+}$$, and $${\Xi }_{c}^{+}\to {\Xi }^{0}{K}+$$ at Belle and Belle II / Null, Null; Adachi, I.; Ahn, J. K.; Ahn, Y.; Akopov, N.; Alghamdi, S.; Alhakami, M.; Althubiti, N.; Amos, K.; Anh Ky, N.; Antonioli, C.; Asner, D. M.; Aversano, M.; Ayad, R.; Babu, V.; Baghel, N. K.; Bambade, P.; Banerjee, Sw.; Barrett, M.; Bartl, M.; Baudot, J.; Beaubien, A.; Becherer, F.; Becker, J.; Bennett, J. V.; Bertacchi, V.; Bertemes, M.; Bertholet, E.; Bessner, M.; Bettarini, S.; Bhuyan, B.; Bianchi, F.; Biswas, D.; Bodrov, D.; Bondar, A.; Bonvicini, G.; Boschetti, A.; Bozek, A.; Bračko, M.; Branchini, P.; Briere, R. A.; Budano, A.; Bussino, S.; Campagna, Q.; Campajola, M.; Cao, L.; Casarosa, G.; Cecchi, C.; Chang, M. -C.; Cheema, P.; Cheon, B. G.; Chilikin, K.; Chin, J.; Chirapatpimol, K.; Cho, H. -E.; Cho, K.; Cho, S. -J.; Choi, S. -K.; Choudhury, S.; Cochran, J.; Consigny, I.; Corona, L.; Cui, J. X.; De La Cruz-Burelo, E.; De La Motte, S. A.; De Pietro, G.; De Sangro, R.; Destefanis, M.; Dey, S.; Di Canto, A.; Dingfelder, J.; Doležal, Z.; Domínguez Jiménez, I.; Dong, T. V.; Dorigo, M.; Dujany, G.; Ecker, P.; Feichtinger, P.; Ferber, T.; Fillinger, T.; Finck, C.; Finocchiaro, G.; Fodor, A.; Forti, F.; Fulsom, B. G.; Gabrielli, A.; Gale, A.; Garcia-Hernandez, M.; Garg, R.; Gaudino, G.; Gaur, V.; Gautam, V.; Gaz, A.; Gellrich, A.; Ghosh, D.; Ghumaryan, H.; Giordano, R.; Giri, A.; Gironella Gironell, P.; Glazov, A.; Gobbo, B.; Godang, R.; Gogota, O.; Goldenzweig, P.; Gradl, W.; Graziani, E.; Greenwald, D.; Gruberová, Z.; Guan, Y.; Gudkova, K.; Haide, I.; Han, Y.; Hara, T.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Hazra, S.; Hedges, M. T.; Heidelbach, A.; Heredia De La Cruz, I.; Hernández Villanueva, M.; Higuchi, T.; Hoek, M.; Hohmann, M.; Hoppe, R.; Horak, P.; Hsu, C. -L.; Humair, T.; Iijima, T.; Ipsita, N.; Ishikawa, A.; Itoh, R.; Iwasaki, M.; Jacobs, W. W.; Jaffe, D. E.; Jang, E. -J.; Jia, S.; Jin, Y.; Johnson, A.; Joo, K. K.; Junkerkalefeld, H.; Kandra, J.; Kang, K. H.; Karyan, G.; Kawasaki, T.; Keil, F.; Ketter, C.; Kiesling, C.; Kim, C. -H.; Kim, D. Y.; Kim, J. -Y.; Kim, K. -H.; Kim, Y. J.; Kinoshita, K.; Kodyš, P.; Koga, T.; Kohani, S.; Kojima, K.; Korobov, A.; Korpar, S.; Kovalenko, E.; Kowalewski, R.; Križan, P.; Krokovny, P.; Kuhr, T.; Kulii, Y.; Kumara, K.; Kunigo, T.; Kuzmin, A.; Kwon, Y. -J.; Lacaprara, S.; Lam, T.; Lange, J. S.; Lau, T. S.; Laurenza, M.; Leboucher, R.; Le Diberder, F. R.; Lee, M. J.; Lemettais, C.; Leo, P.; Li, H. -J.; Li, L. K.; Li, Q. M.; Li, W. Z.; Li, Y.; Li, Y. B.; Liao, Y. P.; Libby, J.; Lin, J.; Liu, Q. Y.; Liu, Z. Q.; Liventsev, D.; Longo, S.; Lyu, C.; Ma, Y.; Madaan, C.; Maggiora, M.; Maharana, S. P.; Maiti, R.; Mancinelli, G.; Manfredi, R.; Manoni, E.; Mantovano, M.; Marcantonio, D.; Marcello, S.; Marinas, C.; Martellini, C.; Martens, A.; Martinov, T.; Massaccesi, L.; Masuda, M.; Matvienko, D.; Maushart, M.; Mckenna, J. A.; Mehta, R.; Meier, F.; Meleshko, D.; Merola, M.; Miller, C.; Mirra, M.; Mitra, S.; Miyabayashi, K.; Moneta, S.; Moreira De Carvalho, A. L.; Moser, H. -G.; Nakamura, I.; Nakao, M.; Naruki, M.; Natkaniec, Z.; Natochii, A.; Nayak, M.; Neu, M.; Nishida, S.; Ogawa, S.; Ono, H.; Oxford, E. R.; Pakhlova, G.; Pardi, S.; Park, J.; Park, K.; Park, S. -H.; Passeri, A.; Patra, S.; Peschke, R.; Pestotnik, R.; Piilonen, L. E.; Podesta-Lerma, P. L. M.; Podobnik, T.; Prakash, A.; Praz, C.; Prell, S.; Prencipe, E.; Prim, M. T.; Privalov, S.; Purwar, H.; Rados, P.; Raeuber, G.; Raiz, S.; Raj, V.; Ravindran, K.; Rehman, J. U.; Reif, M.; Reiter, S.; Reuter, L.; Ricalde Herrmann, D.; Ripp-Baudot, I.; Rizzo, G.; Roney, J. M.; Rostomyan, A.; Sanders, D. A.; Sandilya, S.; Santelj, L.; Savinov, V.; Scavino, B.; Schnell, G.; Schoenning, K.; Schwanda, C.; Schwartz, A. J.; Seino, Y.; Selce, A.; Senyo, K.; Sfienti, C.; Shan, W.; Sharma, G.; Shen, C. P.; Shi, X. D.; Shillington, T.; Shimasaki, T.; Shiu, J. -G.; Shtol, D.; Sibidanov, A.; Simon, F.; Skorupa, J.; Sobie, R. J.; Sobotzik, M.; Soffer, A.; Sokolov, A.; Solovieva, E.; Song, W.; Spataro, S.; Spruck, B.; Starič, M.; Stavroulakis, P.; Stefkova, S.; Stroili, R.; Sumihama, M.; Suwonjandee, N.; Svidras, H.; Takahashi, M.; Takizawa, M.; Tamponi, U.; Tang, S. S.; Tanida, K.; Tenchini, F.; Tittel, O.; Tiwary, R.; Torassa, E.; Trabelsi, K.; Tsaklidis, I.; Uchida, M.; Ueda, I.; Uglov, T.; Unger, K.; Unno, Y.; Uno, K.; Uno, S.; Vahsen, S. E.; Van Tonder, R.; Varvell, K. E.; Veronesi, M.; Vismaya, V. S.; Vitale, L.; Vobbilisetti, V.; Volpe, R.; Vossen, A.; Wakai, M.; Wallner, S.; Wang, M. -Z.; Warburton, A.; Watanuki, S.; Wessel, C.; Xu, X. P.; Xu, Z.; Yabsley, B. D.; Yamada, S.; Yan, W.; Yan, W. C.; Yelton, J.; Yin, J. H.; Yoshihara, K.; Yuan, C. Z.; Yuan, J.; Zani, L.; Zeng, F.; Zeyrek, M.; Zhang, B.; Zhilich, V.; Zhong, Y.; Zhou, J. S.; Zhou, Q. D.; Zhu, L.; Žlebčík, R.. - In: JOURNAL OF HIGH ENERGY PHYSICS. - ISSN 1029-8479. - 2025:8(2025), pp. 195.1-195.20. [10.1007/jhep08(2025)195]