Effect of ion-bombardment during deposition on the x-ray microstructure of thin silver films / Huang, T. C.; Lim, G.; Parmigiani, Fulvio. - In: JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY. A. VACUUM, SURFACES, AND FILMS. - ISSN 0734-2101. - 6:6(1985), pp. 3074-3081.

Effect of ion-bombardment during deposition on the x-ray microstructure of thin silver films

PARMIGIANI, FULVIO
1985-01-01

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